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英國進口SunScan植物冠層分析儀系統,通過測量作物冠層PAR值提供了關 于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息,如葉面積指數(LAI)。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖